型號(hào): | 規(guī)格 | 說(shuō)明 | 價(jià)格 |
IST8800 | 組合測(cè)試 | 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀 | 99800元 |
GT3100 | 組合測(cè)試 | 數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀 | 12800元 |
GT3198 | 組合測(cè)試 | 線性IC參數(shù)分選測(cè)試儀 | 21800元 |
TONEOHM 950 | 英國(guó)產(chǎn) | 多層板短路探測(cè)儀 | 59000元 |
型號(hào) | |||
通道 | ICTF: 40th V/I曲線:40th | ICTF: 40th V/I曲線: 80th | ICTF: 40×2th V/I曲線: 80th |
附件 | 雙列直插夾具(7件) 表面貼雙列直插夾具(7件) 單排式40腳夾具(3件) | ||
價(jià)格 | 18,000元 | 26,000元 | 38,000元 |
產(chǎn)地 | 北京迪陽(yáng)公司 |
集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專用儀器設(shè)備,,集成電路的分類很多,,主要大的分類有數(shù)字集成電路和模擬集成電路等,按集成電路的分類,集成電路測(cè)試儀也可以分為:數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀,。按功能分類:可以分為集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀,;按形式分:便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀,。功能測(cè)試:是對(duì)集成電路的功能進(jìn)行判定,看是否功能失效,。參數(shù)測(cè)試:是對(duì)集成電路的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,看測(cè)試讀取的參數(shù)是否符合ic的設(shè)計(jì)要求,。市場(chǎng)上常見(jiàn)的便宜的集成電路測(cè)試儀大多是功能測(cè)試,,由于參數(shù)測(cè)試儀的生產(chǎn)成本較高,一般參數(shù)測(cè)試儀的價(jià)為都在幾萬(wàn),,價(jià)位的高低一般取決于參數(shù)測(cè)試的精度,。
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