工作原理： 全功能ASA+GT測試器 
      ASA（Analong signature Analysis）對元件每個管腳提供一個安全,、低功率的掃描驅(qū)動電壓信號,，以便產(chǎn)生一個阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲,，以備比對,。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會傷害元件,。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形,，并且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效,。

 

[GT]系列檢測儀檢測更加可靠準確
■ 功能測試軟件設上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大,、中,、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負載能力下降故障 ■ V/I測試正負掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試    

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確,，可測74系列,、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路,。 
1,、快速測試：直接顯示測試結(jié)果，迅速確定可疑IC

2,、分析測試：顯示全部測試過程,，測試激勵。預期和實際響應，幫助分析故障原因 

3,、器件識別：查找無標記型號IC或同功能不同型號的IC,。
集成電路在線狀態(tài)測試
通過好壞板上相應IC的狀態(tài)進行比較，找出有故障的IC,。
1,、狀態(tài)學習：在線學習無故障IC的引腳關系，互連狀態(tài)和測試的激勵與響應,，并存入數(shù)據(jù)庫中 
2,、狀態(tài)比較：同故障板上相應IC在線進行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 
3,、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料,。
集成電路離線功能測試
離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖,，管腳圖及部分參數(shù),。
V/I曲線測試
    通過好壞板上相應節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC

1、學習：在線學習無故障板上各節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線）,，并存入數(shù)據(jù)庫中 

2,、曲線比較：同故障板上相應節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線進行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點相關的IC是否損壞 

3,、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料大
網(wǎng)絡提取測試
    使用戶方便的測試出元器件之間的連接關系,，輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡提取采用了四種模式： 

開發(fā)編譯
    TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件,。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應子測試關聯(lián)起來,，隨時用熱鍵查看相應說明文件,。