工作原理： 全功能ASA+GT測試器 
      ASA（Analong signature Analysis）對元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全、低功率的掃描驅(qū)動電壓信號，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲，以備比對。所有測試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行，所以不會傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對各類分立元件如：電阻、電容等同樣有效。

 

[GT]系列檢測儀檢測更加可靠準(zhǔn)確
■ 功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試    

本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù)，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。 
1、快速測試：直接顯示測試結(jié)果，迅速確定可疑IC

2、分析測試：顯示全部測試過程，測試激勵(lì)。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 

3、器件識別：查找無標(biāo)記型號IC或同功能不同型號的IC。
集成電路在線狀態(tài)測試
通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較，找出有故障的IC。
1、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無故障IC的引腳關(guān)系，互連狀態(tài)和測試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫中 
2、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。
集成電路離線功能測試
離線測試IC功能好壞，自動識別未知型號的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù)。
V/I曲線測試
    通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC

1、學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無故障板上各節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫中 

2、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞 

3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動態(tài)阻抗圖資料大
網(wǎng)絡(luò)提取測試
    使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系，輔助判斷芯片的好壞。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式： 

開發(fā)編譯
    TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測試都安排了一個(gè)說明文件。該說明文件可以通過任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。