工作原理： 全功能ASA+GT測(cè)試器 
      ASA（Analong signature Analysis）對(duì)元件每個(gè)管腳提供一個(gè)安全,、低功率的掃描驅(qū)動(dòng)電壓信號(hào)，以便產(chǎn)生一個(gè)阻抗性圖并在CRT上顯示,、且可存儲(chǔ),，以備比對(duì)。所有測(cè)試都是在靜態(tài)下（不加電）執(zhí)行,，所以不會(huì)傷害元件,。它不僅能快速掃描并存儲(chǔ)各類IC每個(gè)管腳V/I曲線圖形，并且對(duì)各類分立元件如：電阻,、電容等同樣有效,。

 

[GT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加可靠準(zhǔn)確
■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試 ■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中,、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試 ■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類器件的V/I測(cè)試集成電路在線功能測(cè)試    

本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù),，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列,、4000/45000邏輯IC,、75系列接口IC各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 
1,、快速測(cè)試：直接顯示測(cè)試結(jié)果,，迅速確定可疑IC

2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程,，測(cè)試激勵(lì),。預(yù)期和實(shí)際響應(yīng)，幫助分析故障原因 

3、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC,。
集成電路在線狀態(tài)測(cè)試
通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較,，找出有故障的IC。
1,、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故障IC的引腳關(guān)系,，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 
2,、狀態(tài)比較：同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較,，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 
3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)中的各IC的狀態(tài)資料,。
集成電路離線功能測(cè)試
離線測(cè)試IC功能好壞,，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片
IC邏輯圖查詢
可查閱邏輯電路的邏輯功能圖，管腳圖及部分參數(shù),。
V/I曲線測(cè)試
    通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC

1,、學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)無(wú)故障板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線），并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 

2,、曲線比較：同故障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較,，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC是否損壞 

3、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大
網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試
    使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系,，輔助判斷芯片的好壞,。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式： 

開(kāi)發(fā)編譯
    TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件,。該說(shuō)明文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立,，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái)，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說(shuō)明文件,。