可測試各元件參數(shù)及GO/NO GO測試: BIPOLAR TRANSISTOR:Icbo.1ceo.1ebo.BVcbo.BVebo.BVceo.Vce(sat).Vbe (sat).hFE.Icer.Ices.1cev.BVcer.BVces.BVcev
·DIODE:Ir.BVr.Vf
·ZENER DIODE:BVz.Izr.Vzr.Vzf
·JFET:Idss.1gss.BVgss.gm
·MOSFET:Idss.Igss.BVdss.Vgs(th)
·SCR&TRlAC:+/-Igt,+/-Igt.Ih
·VOLTAGE RECULATOR:+/-Vo,+/-Iib, ΔV
·內(nèi)建有繼電器距陣,,從nA范圍至1200v,,提供了準(zhǔn)確性及多種測試功能。
·電池保持的CMOS RAM,,可存儲56種不同的測試程序,。
·元件自動檢測DUT的任何開路,、短路及接面故障問題。辨認(rèn)元件型式及正確的接腳連接等問題,。
·具有軟體自動校正功能及IEEE-488接口,、高壓和上料機(jī)自動輸送量測等介面功能。
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