可測(cè)試各元件參數(shù)及GO/NO GO測(cè)試: BIPOLAR TRANSISTOR:Icbo.1ceo.1ebo.BVcbo.BVebo.BVceo.Vce(sat).Vbe (sat).hFE.Icer.Ices.1cev.BVcer.BVces.BVcev
·DIODE:Ir.BVr.Vf
·ZENER DIODE:BVz.Izr.Vzr.Vzf
·JFET:Idss.1gss.BVgss.gm
·MOSFET:Idss.Igss.BVdss.Vgs(th)
·SCR&TRlAC:+/-Igt,+/-Igt.Ih
·VOLTAGE RECULATOR:+/-Vo,+/-Iib, ΔV
·內(nèi)建有繼電器距陣,,從nA范圍至1200v,,提供了準(zhǔn)確性及多種測(cè)試功能。
·電池保持的CMOS RAM,可存儲(chǔ)56種不同的測(cè)試程序,。
·元件自動(dòng)檢測(cè)DUT的任何開(kāi)路、短路及接面故障問(wèn)題,。辨認(rèn)元件型式及正確的接腳連接等問(wèn)題,。
·具有軟體自動(dòng)校正功能及IEEE-488接口、高壓和上料機(jī)自動(dòng)輸送量測(cè)等介面功能,。
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