本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)

測試范圍及測試品種：28Pin

　54系列； 74系列；

　4500系列；4000系列；

　RAM 256K BIT

　EPROM 64K BIT

　C00 系列；

產(chǎn)品主要性能

產(chǎn)品主要性能：

　在功能測試的基礎(chǔ)上 測試器件的輸入端注入電流。

　測試器件的功耗電流。

　測試器件的輸入端交叉漏電流。

　查找未知芯片型號。

　測試器件的輸出端：三態(tài)“及”OC“門。 可以單次測試，也可以循環(huán)測試。

　測試器件的輸出負(fù)載電流。

　可自動識別74系列中的CMOS（如：74C，74HC，74HCT等）。

本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù)

本產(chǎn)品所提供的多值測試參數(shù)：

　8種可選擇的測試電阻。

　 可設(shè)置多種輸入端注入電流。

　 多種測試電壓比較值。

　 功耗測試。

　 以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測試模式，其中包括用戶自定義模式及全組合測試模式。

測試模式：

　模式O：全組合參數(shù)測試。

　模式1-C：操作與模式O相同，但各有其不同的測試參數(shù)數(shù)值。

　模式D：任選輸入負(fù)載電流及測試電源和輸入電流測試。

　模式E：自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示，鍵盤及測試管腳電路。

　模式F：自編程測試.