本系統(tǒng)的主要特點(diǎn)
測(cè)試范圍及測(cè)試品種:28Pin
54系列; 74系列,;
4500系列,;4000系列,;
RAM 256K BIT
EPROM 64K BIT
C00 系列;
產(chǎn)品主要性能
產(chǎn)品主要性能:
在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上 測(cè)試器件的輸入端注入電流,。
測(cè)試器件的功耗電流,。
測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。
查找未知芯片型號(hào),。
測(cè)試器件的輸出端:三態(tài)“及”OC“門,。 可以單次測(cè)試,也可以循環(huán)測(cè)試,。
測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流,。
可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS(如:74C,74HC,,74HCT等),。
本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù)
本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù):
8種可選擇的測(cè)試電阻。
可設(shè)置多種輸入端注入電流,。
多種測(cè)試電壓比較值,。
功耗測(cè)試。
以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成的測(cè)試模式,,其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式,。
測(cè)試模式:
模式O:全組合參數(shù)測(cè)試。
模式1-C:操作與模式O相同,,但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值,。
模式D:任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。
模式E:自檢,。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分,,顯示,鍵盤及測(cè)試管腳電路,。
模式F:自編程測(cè)試.